焊点可靠性，POP组装与空洞控制
主办：上海普瑞思管理咨询有限公司 上海创卓商务咨询有限公司
时间：2013年05月25-26日 深圳
价格：￥2500/人(包括授课费、资料费、会务费、午餐等)
课程背景：
本课程涵盖了电子封装和组装应用中软钎焊焊点的
可靠性表现。讨论了焊点的机械失效模式机制和提高可靠性的方法。在电可靠性方面，详细讨论了由于微型化的快速发展而导致的严重的焊点，铜柱以及再分布线的电迁移问题。在组件类型方面，详尽地回顾了POP以及其他的底部终止组件封装方式，包括材料选择，工艺，可靠性，和提高可靠性的方法。介绍了环氧助焊剂这种最具潜力的解决方法，并将其与其他解决方案进行比较。最后，以QFN热板设计为实例，讲授了回流焊中，特别是在PoP和其他更容易产生气孔的封装方式中气孔控制方法。这些控制方法包括在材料，工艺和设计方面的考虑。
课程大纲：
软钎料焊点可靠性
热疲劳过程中焊点的结构与性能关系以及失效模式，易脆性和提高可靠性的解决方案
电迁移
在无铅，锡铅，铜的支柱，和RDL系统中的基本原理和表现
POP和底部终止封装
工艺的考虑，材料的选择及可靠性
环氧助焊剂 - POP和其他面阵封装中可靠性解决方法
工艺，应用以及与其他替代方案的比较
回流焊过程中气孔的控制
气孔产生机制和控制方法以及在QFN中的应用
Solder Joint Reliability
Structure-property relationship and failure modes for thermal fatigue, fragility and solutions for reliability improvement
Electromigration
Fundamental and performance in SnPb, Pb-free, Cu-pillar, and RDL systems
PoP & Bottom Terminated Packages
Process considerations, material selection & reliabilities
Epoxy Flux Reliability Solution for PoP and other Area Array Packages
Process, applications, and comparison with alternative solutions
Voiding Control at Reflow Soldering
Voiding mechanisms and control, and application on QFN
讲师介绍：李宁成
Ning-Cheng Lee，1973国立台湾大学化学专业学士，1981年University of Akron高分子专业博士，现任美国Indium 公司技术副总裁。Ning-Cheng Lee博士于1986 年加入Indium 公司，在此之前，曾先后就职于莫顿化学公司 和SCM 公司。他对于SMT 行业中助焊剂和焊膏的研发有20 多年的经验，并在底部填充灌封胶和粘合剂的研发方面也具有极为丰富的经验。
Ning-Cheng Lee博士编写了 《Reflow Soldering Processes and Troubleshooting: SMT, BGA, CSP, and Flip Chip Technologies》（Newnes出版）一书，参与编写了《Electronics Manufacturing with Lead-Free, Halogen-Free, and Conductive-Adhesive Materials》（McGraw-Hill出版），同时还编写了一些无铅焊接书籍的部分章节。他于1991年获SMT杂志颁发的最佳SMI国际研讨会论文奖，1993年和 2001年获SMTA颁发的最佳SMTA国际研讨会论文奖，2008年获IPC在美国APEX会议上颁发的优秀论文奖， 2010年获SMTA China South颁发的最佳论文奖，2002年，被提名为SMTA的荣誉会员，2003年获Soldertec全球无铅焊料奖， 2006年获CPMT杰出技术成就奖，2007年CPMT杰出讲师，2009年SMTA杰出作者，2010年获CPMT电子制造技术奖。Ning-Cheng Lee博士还是SMTA董事会成员，并担任《Soldering and Surface Mount Technology》和《Global SMT & Packaging》杂志的编辑顾问，《IEEE Transactions on Electronics Packaging Manufacturing》的助理主编。他发表过大量的文章，经常应邀参加国际论坛研讨会并对一些研究成果做简短的介绍或者重要的演讲。
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